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來自:百科API測(cè)試的幾個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)如下: 提前發(fā)現(xiàn)問題:API測(cè)試可以在軟件開發(fā)的早期階段進(jìn)行,無需等待整個(gè)應(yīng)用界面完成,這樣可以及早發(fā)現(xiàn)并修復(fù)問題,降低修復(fù)成本。 提高測(cè)試效率:API測(cè)試執(zhí)行速度快,反饋迅速,能夠更高效地運(yùn)行自動(dòng)化測(cè)試套件,加快測(cè)試周期。 覆蓋范圍更廣:接口測(cè)試可以覆蓋更多業(yè)務(wù)場(chǎng)景和邏輯路徑。來自:專題
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